工業(yè)內(nèi)窺鏡的出現(xiàn)提供了一種高效的間接目視內(nèi)窺探查手段，然而民航孔探等領域的視情維護需求，要求工業(yè)內(nèi)窺鏡不能僅停留在“目視”上，還要具備對缺陷尺寸進行測量的能力。于是工業(yè)內(nèi)窺鏡開啟了缺陷測量技術的變革創(chuàng)新之旅，經(jīng)歷了接觸式測量、比較測量、陰影測量、雙物鏡測量、以及3DPM測量技術的更迭與創(chuàng)新。

1. 新的探索：接觸式測量時代。通過在探頭上捆綁參照物、并直接接觸測量的方式估算缺陷大小，開啟了內(nèi)窺測量的新篇章，但存在到達性差、參照物易脫落等缺點。

2. 數(shù)字時代：開啟非接觸測量。美國韋林在1984年研制出首臺工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡后，通過視頻成像技術將已知尺寸與被測物比較，實現(xiàn)了非接觸式的比較測量，雖然比此前的技術有了質(zhì)的飛躍，然而比對參照物的方式使得其準確度和操作易用性（要求測量鏡頭與被測面相對垂直）都存在不足之處。

3. 準確進階：單物鏡陰影測量。1991年美國韋林推出單物鏡陰影測量技術，通過測量鏡頭上刻線的投影變化實現(xiàn)測量，準確性有了大幅提升，然而此前不易操作的問題依然存在。

4. 更易操作：雙物鏡測量技術。該技術的應用不再要求鏡頭與被測對象表面垂直，降低了操作的難度，拓展了應用的廣度。然而雙物鏡對視野的影響、基于二維畫面的計算本質(zhì)、以及易引入人為誤差等，使得雙物鏡測量在得到廣泛應用的同時，依然難以滿足精準視情維護的高要求。

5. 變革創(chuàng)新：3DPM開創(chuàng)新天地。韋林推出的單物鏡相位掃描三維立體測量(3DPM)技術很好地解決了此前技術的缺陷，105°的大視野廣焦距鏡頭、通過光柵掃描獲取物體表面三維信息的先進原理、實時三維重構能力、以及豐富的測量模式，使得工業(yè)內(nèi)窺鏡的檢測和缺陷測量能力提升到了新的高度：操作簡單、結(jié)果精準、測量多元化。

由此不難看出，工業(yè)內(nèi)窺鏡缺陷測量技術的發(fā)展和變革，不僅是內(nèi)窺測量技術更新?lián)Q代的革新之旅，更是推動缺陷量化分析功能更精準易用的探索之旅。隨著韋林單物鏡相位掃描三維立體測量技術的誕生，以及國內(nèi)眾多航空發(fā)動機廠家和各行業(yè)用戶的應用驗證，理念先進的視情維護策略終于有了強有力的技術支撐。如今的工業(yè)內(nèi)窺鏡測量技術正以更可靠更高效的新面目，驅(qū)動精準視情維護新時代！

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